使用标准样品和标准探针时操作用时5分钟*
*自动观察模式,扫描范围1um× 1um ,256×256点阵。操作时长依赖于操作者。
利用光学显微镜搜索目标区域,利用SPM可以方便地进行高分辨率观察。利用与表面形状图像相同的视场可以获得其他物理特性信息。
样品:硅基底上的二氧化硅图案
丰富多样的扫描模式
从形貌观察到基于力曲线测量的物性分析,支持广泛的扫描模式。这意味着可以兼顾高分辨率与物性测试。
形貌 | 接触模式、动态模式 |
---|---|
机械性能 | 相位模式、侧向力模式、力调制模式、Nano 3D Mapping Fast * |
电磁学 | 电流模式* 、磁力模式* 、表面电势模式* 、压电力模式* 、STM * |
纳米加工 | 矢量扫描模式* |
环境支持 | 液体环境* |
搜寻目标区域更容易
利用清晰地光学显微镜图像,可以轻松找到目标区域,不用担心振动的影响。
SPM-Nanoa集成了一体式高性能光学显微镜。
样品视野
使用集成光学显微镜,样品表面的3um间隔图案清晰可见。
高分辨观察表面物性
极软样品的变形或样品局部的机械及电气性能的差异,都可以获得高分辨率的观测图像。
用表面电势模式观察云母基底上的金纳米颗粒
8K成像助力大范围高分辨扫描
可支持8K(81929192)扫描点阵,大范围区域的小细节也纤毫毕现。
观察金属蒸镀膜